电路内测试（ICT）是通过测试电路元件的电气性能和连接来检查PCBA制造缺陷和不良元件的标准测试方法。
它主要检查电路中的单个元件和每个电路网络的开路和短路情况。 具有操作简单、快速迅速、故障定位准确等特点。一个好的电子工程师在设计PCB时会预先考虑测试点。
ICT针床可以测试模拟设备功能和数字设备的逻辑功能，故障复盖率高。 但是，每种类型的单块PCB板都需要制作专用的针床夹具，夹具制作和程序开发周期长。
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ICT在线测试的功能和优势
1.ICT的一般功能:
(1)它可以在短短几秒钟内检测组装电路板上的所有零件，如电阻，电容，电感器，晶体管，Fet，Led，普通二极管，稳定二极管，光耦，Ic等。 它还检查部件是否在设计的规格范围内工作。
（2）可提前确定PCBA制造工艺缺陷，如短路、开路、缺件、反向、错件、空焊等。然后它提供反馈给过程的改进。
(3)上述故障检测结果可打印出来，包括故障的位置、零件的标准值、检测值等，供维修人员参考。 能有效降低人员对产品技术的依赖。 即使这些人员对PCB电路没有经验，他们仍然有能力做出贡献。
（4）可以确定测试失败，生产管理人员可以分析信息，确定缺陷的原因，包括人为因素。 这是为了使他们能够解决、纠正和提高电路板的制造和质量能力。
2、ICT特殊功能:
电解电容器极性测试技术:
电解电容器反转，缺失部分100%可测试并联电解电容器反转，缺失部分100%可测试电解电容器极性测试技术的工作原理:
1.1是利用第三引脚对电解电容顶部施加触发信号，测量第三点与正极或负极端子之间的响应信号。
1.2用DSP(数字信号处理)技术计算后，通过Dft(离散傅立叶变换)和FFT(快速傅立叶变换)转换成一组矢量。 得到的响应信号从t(时)域(示波器信号)变换到f(频)域(频谱分析仪信号)矢量组。
1.3通过学习得到一组标准矢量值，然后通过Pattern Match(特征识别与比较技术)将DUT(被测设备)的测量值与原始标准值进行比较，判断测试对象的极性是否正确。
模式匹配用于指纹识别、假币识别、视网膜识别等应用。
用万用表测量电阻Rx时
∵Lx=Is-I1≠Is V Vx/Is Rx Rx
如果将a点的电位Va送到G点，则令Vg=Va R1=(Va)/R1
=R1=0Is=Ix=Rx=Vx/Is
电阻测量是电压和电流测量的外推。 欧姆表本身必须为被测板提供激励源。 电阻可以在不属于电路的情况下测量。 假设电阻是电路的一部分。
在这种情况下，必须移除其他电压或电流源，并且必须关闭电源或电池或从电路断开。 否则，电流或电压将使读数不正确。
电阻R/C（模式V5，CV）
直流恒压源：根据欧姆定律：V=IR，我们得到Rx=Vs/Is=0.05v或0.1v/I
因此，如果获得Ix，则可以计算Rx值。
Vs=0.1v，0.05v
电阻R/L（模式P1、P2、P3、P4、P5）
相位法测试：交流电压必须Vs，辅助相位法Rx=1`/Y|/Cosθ
电阻R（模式XR）
25V电压源，测量1m以上的电阻
2. 电容C（模式A1A2A3A4A5）
交流恒压：交流电压必须为Vs，Vs/Lx=Zc=1/2nfcx
得到：Cx=Ix/2nfvs
*电容C/R（模式P1P2P3P4P5）
相法测试：/Y|/Sinθ=|Ycx/，即wCx'Sinθ=wCx
得：Cx=Cx'Sinθ(Cx'=Ix'/2nfvs)
*电容C3UF以上大电容（模式DC）
直流恒流：C=ΔT/ΔV*I
*电感L（模式A1A2A3A4A5）
Vs/Ix=Zl=2nflx得到：Lx=Vs/2nfix
相位测试：/Y|/Sinθ=|Ycx/,ψsinθ/wCx'=1/wCx得到：Lx=Lx'/Sinθ(Lx'=Vs/2nfix')
二极管;二极管
二极管是双端子元件。 当其反向偏置时，阳极电压相对于阴极为负，并且具有高电阻。 当它是NPN时，它呈现电压降和低电阻。 正向电压的下降与二极管的类型有关，通常小于1v。硅：0.6v-0.7v，锗管：0.25-0.4v，肖特基块类型：0.4-0.5v，LED：1.5-2.5v。
测量二极管时，Vs应大于二极管的正向压降。 但不宜过大，以免电压过大或二极管被电流损坏。 NPN测试：一般电压源为2.2v，然后测量其电压。 正向：约0.7v，反向：2.2v。二极管的正向压降与二极管类型有关，通常小于1v。
硅：0.6v-0.7v，锗管：0.25-0.4v，肖特基势垒类型：0.4-0.5v，LED：1.5-2.5v。
ICT测试技术中的IC测试
在ICT测试中测试IC有三种方法：IC钳位二极管测试，IC扫描和IC测试喷射。 在这三种测试方法中，IC钳位二极管测试是最常用的，大多数测试都具有这种功能。 IC扫描功能是PTI针对IC测试盲点开发的测试程序。 IC测试射流是安捷伦测试射流技术为解决电路中SMD IC引脚开路问题而开发的测试解决方案。 它用于IC开放联合测试。
IC钳位二极管测试
IC钳位二极管测试方法以每个IC引脚到IC VCC引脚，或以每个IC引脚到IC的GND引脚，或以相邻的两个IC引脚作为两个测试点来测试低电压功能。
测试程序由自动学习方法生成。 制作程序时，使用软件IC的引脚编辑功能，将IC的每个引脚对应的探针编号放入其中，并指定哪个引脚是VCC引脚和GND引脚
测试原理：根据IC厂商脚印中各引脚的保护二极管到GND/VCC进行测试，可辅助IC空焊和反向测试。
IC扫描
IC扫描技术检查SMD IC引脚开路(PIN OPEN)方法由于每个引脚都是由IC的三个引脚进行测试，所以即使是总线上的引脚也可以进行检查。
其原理如图:
步骤1：A=-0.9v B=0v测量电流，得到：I1=I3+I4
步骤2：A=-0.9v B=-1.2v测量电流，得到：I2
第3步：I=I1-I2i>0get Good i≤0get Bad
注意事项:
B点必须是一个独立的引脚
给定电压和测量电流
数字IC可测量
两个Ic的截止电压不同，无法测试。
IC测试喷气机
为了进行测试，IC测试射流利用夹具上的传感器板压在IC上；传感器板的形状和面积与IC外壳相同。 然后利用感应板的铜箔和IC脚架之间的电容来检查引脚的开路。 系统从测试点向IC引脚发送200mV、10KHz信号。
信号通过IC框架和传感板之间的电容耦合，然后通过传感板上的放大器。 到64通道信号调理卡选择并放大信号，最后连接到测试射流系统测量信号强度。 如果IC引脚开路，因为无法检测到信号，系统将知道它是开路。
PTI816NT ICT系统配备了该技术，显着提高了数字电路板的可检测率。 电脑主板、适配卡、传真机、modem板都能得到满意的测试结果。 安捷伦Testjet技术还可以检测各种插座引脚的开路，无论是插入型还是贴片型。 如下图:
从目前的应用情况来看，结合两种或两种以上技术的测试方法正在成为一种发展趋势。
不同的ICT测试技术各有优缺点。 通过结合IC钳位二极管测试和IC扫描技术，它们不需要额外的测试附件。 IC扫描是PTI的免费附加功能，不受IC封装/高度的影响，可以测试Ic的并联连接，特别适用于主板BGA，声卡，显示卡等IT产品。 另一方面，IC扫描和测试喷射技术主要针对SMD IC测试其空焊料、冷焊料等。
IC test jet确认组件是否存在，但无法确认组件、方向或值是否正确。 使用两种或两种以上的测试方法可以降低ICT测试失败率。
2．硬件结构和功能
PTI816系列测量板采用四层板结构，它们是:
直流板：直流信号源，测量电阻，二极管，三极管
交流板：交流信号源，测量电容和电感
SYS板：输入和输出信号的控制和转换
IC扫描功能板：系统自检、IC扫描功能、测试喷射功能测试
继电器板：4层板，采用簧片继电器，具有低内阻、低杂散电容、高电压、大电流电阻等特点。
系统自诊断和调试功能
测试-自我
测试自己。STD是一个系统自检程序，其中包括一些电阻，电容和电感。
*如果自检发现电阻测试或1v，4v，8V或24v的电压失败，则表示直流板损坏。
*如果单个电阻出现问题，则表示DC板上的某个档位无法正常工作。
*自检时如果电容或电感不良，说明交流板损坏。 如果某个电容或电感不好，交流板的相应档位就坏了。
*如果SYS板损坏，所有组件测试都将失败。
3.调试功能（总机自检）
继电器板自检时，荧光屏上会显示"MPX OK"。 否则会显示对应的配电盘的继电器板坏了，如：开路或短路。
如发现上述一两项异常，请做好必要的相关记录，并尽快通知PTI。
附录4：陶瓷电容误差:
F：±1% R：-20% +100%
G：±2% S： 0% +20%
H：±2.5% T：-10% +50%
J：±5% Z：-20% +80%
K：±10% M：±20%
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